1. Advanced electron microscopy and nanomaterials: selected, peer reviewed papers from the First Joint Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials and the Workshop on Nanomaterials )AEM-NANOMAT '09(, Saltillo )Coahuila( Me۱جxico, September 29th-October 2nd, 2009
پدیدآورنده : edited by: Arturo Ponce and Dario Bueno
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Congresses ، Electron microscopy,Congresses ، Nanostructured materials
رده :
TA
418
.
9
.
N35
A3275
2010
2. Advanced transmission electron microscopy
پدیدآورنده : / Jian Min Zuo, John C.H. Spence
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Transmission electron microscopy.,Materials science.,Nanochemistry.,Solid state physics.,Nanoscience.,Nanostructures.,Nanotechnology.
رده :
TA404
.
6
.
Z88
2017
3. Advanced transmission electron microscopy
پدیدآورنده : / Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral, Raul Arenal, editors
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Transmission electron microscopy.,Nanostructured materials--Nondestructive testing
رده :
QH212
.
T7A39
2015
4. Analytical electron microscopy for materials science
پدیدآورنده : Shindo D. )Daisuke(
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Materials-- Microscopy,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
S5513
2002
5. Atlas of backscattering Kikuchi diffraction patterns
پدیدآورنده : Dingley, David J.
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Materials - Microscopy , Scanning electron microscopy , Diffraction patterns , Crystallography
رده :
TA
417
.
23
.
D56
6. Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
پدیدآورنده : / Yonghua Rong
کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Nanostructured materials - Nondestructive testing,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
R66
2012
7. Electron Microscopy and Multiscale Modeling: Proceedings of The EMMM-2007 International Conference
پدیدآورنده :
کتابخانه: مكتبة جامعة الإسلامية آزاد فرع قم (قم)
موضوع : Materials- Microscopy- Congresses,Electron microscopy- Congresses
رده :
TA
.
E426
417
.
23
2007
8. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده : edited by Adam J. Schwartz, Mukul Kumar, and Brent L. Adams
موضوع : ، Materials, Microscopy,، Scanning electron microscopy,، Crystallography
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
9. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده :
کتابخانه: المكتبة المركزية ومركز الوثائق بجامعة آراك (مرکزي)
موضوع : Materials -- Microscopy,Electrons -- Backscattering,Electrons -- Diffraction,Scanning electron microscopy
رده :
620
.
11299
E38
10. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Materials ; Microscopy. ; Scanning electron microscopy. ; Crystallography. ; Elektronenbeugung. ; swd. ; Kristallographie. ; swd. ; R?ckstreuung. ; swd. ;
11. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده :
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Materials- Microscopy,Scanning electron microscopy,Crystallography
رده :
TA417
.
23
.
E419
2000
12. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : Loretto, M. H.
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Materials - Analysis , Electron beams - Industrial applications , Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
13. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : Loretto, M. H.
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : Analysis ، Materials,Industrial applications ، Electron beams,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
14. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : / M.H. Loretto
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Materials- Analysis,Electron beams- Industrial applictions,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
L67
1994
15. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : Loretto, M. H.
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع : ، Materials- Analysis,، Electron beams- Industrial applications,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
16. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : Loretto, M. H.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Analysis ، Materials,Industrial applications ، Electron beams,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
17. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده :
موضوع : Materials- Analysis,Electron beams- Industrial applications,Electron microscopy
۷ نسخه از این کتاب در ۶ کتابخانه موجود است.
18. Electron microscope specimen preparation techniques in materials
پدیدآورنده : THOMPSON-RUSSELL,K C
کتابخانه: (طهران)
موضوع : ELECTRON MICROSCOPY-TECHNIQUE , MOUNTING OF MICROSCOPE SPECIMENS , MATERIALS-MICROSCOPY
رده :
QH
212
.
E4
T46
19. Electron microscopy in the study of materials
پدیدآورنده : Grundy, Philip James.
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : ، Materials,، Electron microscopy
رده :
TA
407
.
G76
